HAST 試驗箱（高壓加速老化試驗箱）通過營造高溫、高壓、高濕的極端環境，加速材料與產品的老化進程，能在短時間內評估其長期可靠性，是電子、醫療等領域進行可靠性測試的核心設備。

其工作機制基于飽和蒸汽壓力與溫度的協同作用。HAST 試驗箱內通過加熱產生飽和蒸汽，使壓力維持在 2-4 個大氣壓，溫度可達 121℃-143℃，相對濕度保持 100%。這種環境能快速穿透產品表層，加速水分子對材料的侵蝕，尤其是對密封件、焊點和絕緣層的老化影響?？刂葡到y通過精準調節加熱功率與蒸汽流量，實現溫度波動≤±0.5℃、壓力波動≤±0.02MPa 的穩定環境，滿足不同行業的加速老化測試標準。

在半導體封裝測試中，HAST 試驗箱用于驗證芯片的密封性與耐濕性。通過 72 小時的 132℃/2.1bar 條件測試，可檢測芯片封裝是否存在微縫，避免水汽滲入導致的電路短路。測試后需檢測芯片的電參數變化，確保其功能正常，引腳間絕緣電阻保持在 10?Ω 以上。

醫療器械領域中，該設備用于測試植入式電子元件的穩定性。針對心臟起搏器、神經刺激器等產品，在 121℃/1.05bar 環境下進行 100 小時加速老化，評估其密封性能與電路可靠性。測試后需驗證元件的電池續航能力、信號傳輸精度是否符合臨床標準，確保植入后長期安全運行。

電子連接器的可靠性驗證依賴 HAST 試驗箱。在 143℃/3.2bar 條件下進行 50 小時測試，可加速連接器觸點的氧化與絕緣材料的老化。測試后需檢測插拔力變化（增幅≤20%）、接觸電阻（≤50mΩ）及絕緣電阻（≥100MΩ），確保連接器在潮濕環境中保持穩定導電性能。

傳感器封裝測試中，HAST 試驗箱用于評估其耐濕熱能力。對溫濕度傳感器、壓力傳感器等進行 125℃/1.2bar 條件下的 96 小時測試，檢測其測量精度偏差（應≤±2%）與響應速度變化，確保在高濕環境中仍能保持精準傳感性能。

HAST 試驗箱通過壓縮時間維度的老化測試，為半導體、醫療、電子等行業提供高效的可靠性驗證方案，幫助企業提前發現產品潛在缺陷，優化封裝工藝與材料選擇，顯著提升產品的長期使用可靠性。